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Features:
■ Thermal analysis of tiny 8 μm chip-level structures on electronic components
■ Exchangeable, focusable optics for most flexible use of the c amera
■ Microscope stand included for hands-free simultaneous operation / testing
■ Frame rates up to 125 Hz allow inspection of fast processes (like pulsed laser diodes)
■ Radiometric video or tiff recording with +/-2 °C measurement accuracy
■ License-free analysis software and complete SDK included




 
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